菲希尔 X-RAY XUL 和 XULMX射线荧光分析

• 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

• XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm

• 钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源

• 采用经实践验证的短测量时间的比例接收器

• 准直器：固定或4个自动切换

• 初级过滤器：固定或3个自动切换

• 固定样品台或手动XY载物台

• 
  

• 用于光学观察测量点的摄像头

• 经认证的全面防护设计；

• 电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护

• 电镀液中金属含量的分析

• 装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS

• >电子行业连接器和触点上的镀层

有任何疑问，请及时与我们沟通！期待您的电铃！

       电话： 0755-89686581

           13265803631/鸿泽